מעבדת חומרים –   שכבות חד מולקולריות רקע: ATR/FTIR: שיטה ספקטרוסקופית המזהה קבוצות פונקציונליות.בשיטה זו הקרן מוקרנת על פריזמה ויוצאת מן הצד השני שלה כך ששבירת הקרן נעשית בזוית קבועה. בניסוי זה השימוש במכשיר נעשה על מנת לזהות הופעת בנזן והעלמות מתיל ובנוסף המכשיר נותן אינדיקציה לגבי אריזה צפופה ומסודרת באמצעות רוחב הפיקים.
UV: שיטה ספקטרוסקופית המזהה מערכות מצומדות. השימוש במכשיר נעשה על מנת לזהות הופעת טבעת בנזן ארומטית.לא נעשה שימוש ב IR כיוון שקוורץ לא בולע IR. אליפסומטר: מכשיר למדידת עוביים של משטחים המשקפים אור.קרן האור האליפטית שמוקרנת ,חודרת לשכבה העליונה של הדוגמה.מנתחים את האור המשוקף לפי כיוון הקיטוב שלו,דבר הנותן את עובי השכבה המצפה את הדוגמהוככל שנוסיף ציפויים נראה שינוי בעובי השכבה המצפה את המשטח ונקבל ערך שונה במדידה. מדידת זווית מגע: מכשיר למדידת אופי אריזת הציפוי.חישוב הזווית נעשה ע"י העברת משיק לטיפה כך שזוית המגע תיווצר בין המשיק למשטח.כשהזווית חדה זה אומר שיש אינטרקציה בין הטיפה למשטח,מדובר בחומר הידרופילי, וכשהזווית קהה זה אומר שאין אינטרקציה בין הטיפה למשטח ,מדובר בחומר הידרופובי.כאשר נחסיר מזווית המגע את זווית הנסיגה נקבל את ההיסטריזיס המעיד על פולריות,אופי הציפוי(אם צפוף או לא ,אם מסודר או לא).   מפגש
1 :   Creation of SAM of OTS מהלך הניסוי ניקינו את הסובסטראטים וייבשנו אותם. הכנו תמיסת פירנה המנקה את הסובסטראטים ממזהמים אורגנים (כ-
2 0 דקות),קיבלנו סובסטראטים בעלי –